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G5101-i N2O同位素分析儀以ppbv級的超高靈敏度實時測量N2O中的氮同位素比率和氧同位素比率及總的N2O(14N+15N)濃度。該設備采用Picarro的波長掃描光腔衰蕩光譜（WS-CRDS）技術，測量有效路徑可達20千米，極高的穩定性、靈敏度和精度是基于傳統的吸收光譜技術和離軸積分腔輸出光譜技術（ICOS）分析儀無法達到的。磚利的高精度波長監視器確保了只有特定的吸收光譜可以被測量到，這大大減少了分析儀對干擾氣體的靈敏度，從而確保在混合氣體中進行痕量測量和同位素的分析。
技術原理：光譜掃描光腔衰蕩光譜技術(WS-CRDS)
技術參數
測量技術
波長掃描光腔衰蕩光譜技術（WS-CRDS）
濃度精度
確保精度<0.05ppb（10min, 1σ）<0.1ppb（100sec, 1σ）
δ15N, δ15Nα, δ15Nβ：確保精度<0.5‰（10min, 1σ）; <1‰（100sec, 1σ）
測量范圍
0.3 ~ 2ppm(可擴展至20ppm)
測量間隔
<10秒
溫度控制精度
0.005 ℃
壓力控制精度
±0.0002 atm
波長控制精度
2MHz
取樣溫度
-10 ~ 45 ℃
取樣流速
<0.05L/min，760Torr
取樣壓力
300 ~ 1000托
取樣濕度
<99% R.H，無冷凝@40℃，
無需干燥
診斷軟件
可監測并記錄38個參數，方便遠程協助解決各種問題
輸出
RS-232，網卡，USB, 模擬輸出
電壓
（可選）4 ~ 20mA / -10 ~ 10V
出/入口接頭
1/4英寸接頭套管
耗電
90-250VAC，<200Watts
京公網安備 11010802025807號
